宇時(shí)UM-5DL掃描超聲波測(cè)厚儀

宇時(shí)UM-5DL掃描超聲波測(cè)厚儀的產(chǎn)品特點(diǎn)：

宇時(shí)UM-5DL掃描超聲波測(cè)厚儀，包含UM-5D的所有特性，增加大容量數(shù)據(jù)記錄器（可存儲(chǔ)10萬(wàn)個(gè)厚度值和1000幅波形），隨機(jī)包含通訊軟件及USB通訊電纜，標(biāo)配TC510穿透涂層探頭。

如果你遇到了普通測(cè)厚儀不能解決的問(wèn)題，請(qǐng)選擇UM-5D超聲波測(cè)厚儀AB掃描穿透涂層，它能zui大限度的解決各種測(cè)厚難題，為您提供高性價(jià)比的解決方案。

1.更大的存儲(chǔ)器、更方便的存儲(chǔ)功能：

可存儲(chǔ)100000個(gè)厚度值，是同檔產(chǎn)品的20至200倍；國(guó)內(nèi)采用柵格式存儲(chǔ)文件，一屏可顯示15個(gè)厚度值，并同時(shí)顯示其在柵格中的位置，便于用戶瀏覽所存的厚度數(shù)據(jù)；可存儲(chǔ)1000幅A或B掃描波形，波形和厚度值可在同一文件中混存；USB 2.0 全速(Full Speed)接口，功能強(qiáng)大的DataView數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)及管理軟件。

2.具有穿透涂層功能，不再需要費(fèi)時(shí)費(fèi)力的去除涂層工作了：

我們之前在國(guó)內(nèi)推出了具有穿透涂層技術(shù)的UM-1D測(cè)厚儀，現(xiàn)在UM-5DL同樣具備了這一*的功能。該功能是通過(guò)測(cè)量基材的兩個(gè)連續(xù)底面回波實(shí)現(xiàn)的。

該模式下還具有更多的優(yōu)勢(shì)：免零點(diǎn)校準(zhǔn)；高穩(wěn)定性，測(cè)量值不受探頭壓力、耦合層厚度和工件表面灰塵污漬的影響；零漂移。

3.實(shí)時(shí)彩色A-掃描(Live Color A-Scan) ：

用戶在屏幕上能直接看到彩色超聲信號(hào)波型（A掃描），這對(duì)于需要驗(yàn)證厚度讀數(shù)是否正確的場(chǎng)合是至關(guān)重要的。許多情況會(huì)引發(fā)錯(cuò)誤的厚度讀數(shù)甚至無(wú)讀數(shù)，根據(jù)波形能輕松找到問(wèn)題所在，然后根據(jù)波形僅需對(duì)增益（GAIN）、消隱(BLANKING)、閘門(GATE)這三個(gè)參數(shù)做適當(dāng)調(diào)整，就可得到正確的厚度讀數(shù)。波形的用處：根據(jù)波形驗(yàn)證厚度讀數(shù)；根據(jù)波形找到問(wèn)題所在；根據(jù)波形尋求解決之道；根據(jù)波形調(diào)整參數(shù)解決問(wèn)題。

4.增益調(diào)整(GAIN)：

調(diào)整儀器對(duì)回波信號(hào)的放大倍數(shù)允許以ldB 為單位手動(dòng)增加或減少。這個(gè)功能對(duì)聲衰減材料（比如金屬鑄件）的測(cè)量是非常有用的。

5.消隱功能(BLANKING)：

使紅色消隱條范圍內(nèi)的波形無(wú)效，可以略去影響測(cè)量的有害雜波，比如因材料表面粗糙或內(nèi)部不均勻引起的噪聲。

6.閘門高度可調(diào)(GATE)：

只有回波高于閘門時(shí)，儀器才認(rèn)為接收到了回波，才會(huì)有測(cè)量值?？梢?jiàn)閘門高度可調(diào)的重要性，尤其是在應(yīng)對(duì)低回波信號(hào)的應(yīng)用中更是如此（比如超薄板、超厚板的測(cè)量）。

7.紅色箭頭：

A掃描模式有一個(gè)紅色箭頭指示測(cè)量點(diǎn)，厚度讀數(shù)就是該點(diǎn)的橫坐標(biāo)，可幫助判斷厚度讀數(shù)是否正確，正確測(cè)量時(shí)紅箭頭應(yīng)該指向*底面回波前沿。

8.范圍(RANGE)：

調(diào)整顯示在屏幕上的波形范圍，視覺(jué)上波形被壓縮或展開(kāi)。如果沒(méi)有正確的設(shè)置顯示范圍，回波波形可能出了顯示區(qū)域而看不到，但仍能正確地顯示測(cè)量值。

9.平移(DELAY)：

調(diào)整顯示在屏幕上的波形的起始位置，視覺(jué)上波形被水平移動(dòng)。

如果沒(méi)有正確的設(shè)置平移，回波波形可能出了顯示區(qū)域而看不到，但仍能正確地顯示測(cè)量值。范圍和平移功能可將波形的任何一部分放大顯示在屏幕上。

10.實(shí)時(shí)彩色B-掃描(Live ColorB-Scan) ：

UM-5測(cè)厚儀帶時(shí)實(shí)B掃描功能。顯示沿著探頭移動(dòng)軌跡的剖面圖，用于觀察被測(cè)工件的底面輪廓。并自動(dòng)捕獲一幅B掃描圖像上的zui小值，由紅色三角指示出zui小值的位置。通過(guò)移動(dòng)指針還可查看B掃描圖像上任一點(diǎn)的厚度值。

11.整流方式：

可選擇射頻、正半波、負(fù)半波、全波四種整流方式。 

射頻：描繪了完整的回波波形； 

正半波：指去掉回波的負(fù)半波只顯示正半波； 

負(fù)半波：指去掉回波的正半波而將負(fù)半波翻轉(zhuǎn)顯示為正；

全波： 指回波的正半波和翻轉(zhuǎn)為正的負(fù)半波均顯示。

12.更多實(shí)用的功能：

差值/縮減率：差值模式顯示實(shí)測(cè)厚度與預(yù)設(shè)厚度之間的差值變化?？s減率是計(jì)算并顯示材料變薄以后厚度縮減的百分比，典型應(yīng)用時(shí)因彎曲而變薄的金屬材料進(jìn)行測(cè)量。

zui大/zui小值捕獲：屏幕上同時(shí)顯示當(dāng)前厚度值、zui小值和zui大厚度值。

報(bào)警模式：報(bào)警時(shí)動(dòng)態(tài)改變厚度讀數(shù)顏色。

更新率4Hz、8Hz、16Hz可調(diào)：普通的應(yīng)用可選擇4Hz，當(dāng)需要快速掃查，比如高溫測(cè)量時(shí)可選更高的更新率。

多種語(yǔ)言界面可選：中文、英文、日文等。  

宇時(shí)UM-5DL掃描超聲波測(cè)厚儀的技術(shù)參數(shù)：

1.測(cè)量范圍：

0.5至508毫米(0.02至20英寸)，取決于所用探頭、材料、表面狀況和溫度。

2.單位和顯示分辨率：

毫米-0.01，0.1 英寸-0.001，0.01。

3.顯示模式：

厚度值模式；A-掃描波形模式；B-掃描波圖像模式；zui小/zui大值捕獲模式；差值/減薄率模式；V路徑修正；自動(dòng)V聲程修正，補(bǔ)償雙晶探頭的非線性度。

4.示值誤差：

±0.05mm(25mm以下)；±0.2%H(100mm以下)；±0.5%H(100mm以上)。

注：H為被測(cè)物厚度。

5.重復(fù)性：±0.05mm。

6.顯示屏：320*240點(diǎn)陣，2.4寸真彩屏。

7.測(cè)量速率：4Hz，8Hz，16Hz可調(diào)。

8.聲速范圍：500～9999m/s，0.0197～0.3937in/us。

9.工作語(yǔ)言：中文、英文、日語(yǔ)（可選）。

10.電源：兩節(jié)1.5V  AA電池。

11.操作時(shí)間：兩節(jié)1.5V  AA電池，使用時(shí)間大于36小時(shí)。

12.自動(dòng)關(guān)機(jī)：5分鐘，10分鐘，20分鐘無(wú)操作后自動(dòng)關(guān)機(jī)或手動(dòng)關(guān)機(jī)。

13.工作溫度：-10℃～+50℃，有特殊要求可達(dá)-20℃。

14.尺寸：153*76*37mm (H*W*D)。

15.重量：含電池280g。

宇時(shí)UM-5DL掃描超聲波測(cè)厚儀的標(biāo)準(zhǔn)配置：

測(cè)厚儀主機(jī)

標(biāo)配探頭

儀器箱

兩節(jié)1.5V堿性電池

耦合劑

操作手冊(cè)

宇時(shí)UM-5DL掃描超聲波測(cè)厚儀的可選附件：

多種可供選擇的探頭；階梯試塊；耦合劑及高溫耦合劑。

宇時(shí)UM-5DL掃描超聲波測(cè)厚儀的多種探頭可選：